在高壓下測驗電纜有助于確認是否存在濕氣、助焊劑或或許現(xiàn)已滲透到絕緣體或連接器后殼破損處的污染物，并保證電線之間的絕緣體能夠接受高于正常作業(yè)電壓的暫時電壓偏移，而不會分化。高壓測驗的成果一般顯現(xiàn)電線之間的絕緣電阻在數(shù)百兆歐或更高。要求 5 吉歐絕緣電阻的測驗標準并不罕見。

許多高可靠性電纜包括環(huán)繞一切導(dǎo)體的織造屏蔽層。屏蔽層防止外部電攪擾耦合到內(nèi)部導(dǎo)體上的信號，并阻撓或許由內(nèi)部導(dǎo)體上的正常信號產(chǎn)生的電噪聲輻射到環(huán)境中。但是，屏蔽電纜使高壓測驗復(fù)雜化，由于屏蔽相關(guān)于內(nèi)部導(dǎo)體的電容大大添加。由于與電線比較，屏蔽層的表面積大得多，因而屏蔽層和導(dǎo)體之間的電容成份額添加。電容會跟著電纜長度的添加而進一步添加。

圖1：帶屏蔽的 5 芯電纜的橫截面視圖

跟著電容的添加，帶電屏蔽層存儲的能量也會添加到或許對操作員形成損害的水平，而且假如產(chǎn)生絕緣擊穿，或許會因電弧加熱而損壞電纜的絕緣層。請注意，存儲在電容器中的能量直接隨電容和電壓的平方而添加：E = ½ CV 2。

許多測驗標準要求屏蔽層作為附加導(dǎo)體參加高壓測驗。下面的句子來自一個典型的標準：在屏蔽層和導(dǎo)體之間施加 500 Vdc的測驗電位時，組件應(yīng)表現(xiàn)出不小于500 MΩ 的絕緣電阻。

主動高壓測驗設(shè)備將向一根導(dǎo)體施加直流電壓，而一切其他導(dǎo)體堅持零伏。一般，關(guān)于每根電線，電壓會逐步升高，堅持“駐留時刻”，并在對該電線的測驗完結(jié)后逐步下降。對電纜中的每個導(dǎo)體重復(fù)此進程，例如，五芯電纜，上升-暫停-下降循環(huán)將重復(fù)五次，每次都在接連的電線上。經(jīng)過這個進程，一根電線的絕緣實際上被測驗了兩次，一次是當電線自身接納到高電壓（+ 到 - 電線絕緣層的極性）時，另一次是當同一根電線堅持零伏而另一根電線稍后接納電壓時測驗（– 到榜首根電線上的 + 極性）。

當在測驗中包括屏蔽層時，它僅僅電纜中的另一根“電線”，并遵從相同的進程。在這種情況下，當一切其他電線都為零伏時向屏蔽層施加電壓時，屏蔽層會包容更多的電荷比在屏蔽層為零伏的任何一根電線上施加電壓時。跟著屏蔽層上電荷的添加，屏蔽層中存儲的能量比電線中存儲的能量多得多，而且經(jīng)過絕緣擊穿或人體觸摸引起的無意放電將導(dǎo)致相當大的電流活動。反過來，這或許會熔化絕緣層中的針孔，導(dǎo)致電纜損壞和無法運用，或許更糟的是，假如放電是由人體觸摸引起的，則會對操作員形成危險的電擊危險。在到達測驗電壓之前，即便是在 upramp 上對屏蔽充電的行為也或許超越測驗儀的跳閘電流（表明擊穿的預(yù)設(shè)電流約束）。

電線絕緣中運用的典型聚合物塑料可防止電流在任何方向上與電場矢量相同好地活動。那么將看到，在恣意兩根導(dǎo)線之間，不管向?qū)Ь€ A 施加高電壓，一起將導(dǎo)線 B 堅持在零伏，仍是相反，絕緣都以相同的漏電阻起作用。由于屏蔽層被視為導(dǎo)體，一般會在兩個方向上進行測驗，因而能夠經(jīng)過不向屏蔽層施加高壓來防止針孔絕緣損壞和觸電的危險添加，一起依然向帶屏蔽層的每根電線施加高壓在測驗期間堅持在零伏。這樣做絕不會下降測驗的有效性。

參閱前面給出的測驗標準，在導(dǎo)體和屏蔽層之間施加 500 Vdc 測驗絕緣，就像在屏蔽層和導(dǎo)體之間施加它相同。因而，經(jīng)過僅在導(dǎo)體和屏蔽層之間進行測驗，實驗者消除了與向屏蔽層施加電壓相關(guān)的危險。

在CAMI Research 制作的CableEye ® 測驗儀中，任何導(dǎo)體都能夠在測驗期間經(jīng)過簡略地在“HiPot Enable”列中表明來按捺高壓。在此屏幕截圖中，實驗者展現(xiàn)了怎么按捺施加到屏蔽層的高壓：

即便不向屏蔽層施加電壓，屏蔽電纜在高壓測驗時仍或許會出現(xiàn)問題，由于跟著電纜長度的添加，導(dǎo)體自身會存儲越來越多的電荷。一般，在這種情況下，上升期間的充電電流或許挨近或超越正常跳閘電流。經(jīng)過下降斜坡率來對此進行補償，以便瞬時充電電流永久不會到達跳閘電流。這顯現(xiàn)了它是怎么運用CableEye測驗儀完結(jié)的。在此屏幕截圖中，將升壓從 5000 V/s 下降到 1200 V/s：

圖2：操控升溫速率

一些電纜有多組屏蔽線組合成一個束，例如屏蔽雙絞線，或織形成一根電纜的同軸導(dǎo)體束。當內(nèi)部屏蔽組合在一起并施加高壓時，電容問題變得愈加嚴峻。此外，陳述的走漏是總和 并聯(lián)屏蔽母線和它們屏蔽的電線之間的一切走漏。這個總和很或許會超越答應(yīng)的走漏，并導(dǎo)致計算出的絕緣電阻太低，然后導(dǎo)致測驗失利，尤其是在有很多屏蔽組合在一起的情況下。均勻走漏當然是分組中走漏的總和除以分組中的導(dǎo)體數(shù)量。屏蔽層包括的電線越多，走漏（正常）越大，而且該組的總絕緣電阻越低。

由于上述原因，只要在高壓下測驗其他電線時屏蔽層堅持在零伏，就不需要向屏蔽層導(dǎo)體施加電壓來精確測驗絕緣電阻。當一切屏蔽層的高壓都被按捺時，電纜不會因不必要的漏電疊加而產(chǎn)生毛病。